[发明专利]利用氢化物发生-原子荧光法测定阿胶中砷、镉的方法无效
| 申请号： | 201010244088.3 | 申请日： | 2010-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN102346144A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 余正东;孙引;余丽娟 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N1/44 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 曹毅 |
| 地址： | 215300 江苏省昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了利用氢化物发生-原子荧光法测定阿胶中砷、镉的方法，包括1)配置合适的还原剂和载流溶液；2)设定仪器和测量参数；3)配置标准品系列溶液剂标准空白；4)测定标准空白至仪器稳定；5)测定标准品系列溶液的荧光强度，并以标准品溶液系列的浓度为自变量，标准品溶液系列的荧光强度为因变量绘制标准曲线；6)测定样品空白的荧光强度；7)测定样品的荧光强度；8)根据样品的荧光强度和标准曲线方程算出样品浓度；以及在进行步骤6和7之前进行试样消解。本发明的方法具有灵敏度高、检出限低，基本干扰少，快速简便的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 氢化物 发生 原子 荧光 测定 阿胶 方法 | ||
【主权项】：
利用氢化物发生‑原子荧光法测定阿胶中砷、镉的方法，包括以下步骤：1)配置合适的还原剂和载流溶液；2)设定仪器和测量参数；3)配置标准品系列溶液剂标准空白；4)测定标准空白至仪器稳定；5)测定标准品系列溶液的荧光强度，并以标准品溶液系列的浓度为自变量，标准品溶液系列的荧光强度为因变量绘制标准曲线；6)测定样品空白的荧光强度；7)测定样品的荧光强度；8)根据样品的荧光强度和标准曲线方程算出样品浓度；其特征在于，在进行步骤6和7之前进行试样消解。
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