[发明专利]介质天线有效
| 申请号： | 201010247260.0 | 申请日： | 2010-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN101944658A | 公开（公告）日： | 2011-01-12 |
| 发明（设计）人： | G·阿姆布雷克特;C·齐茨;E·德尼克 | 申请（专利权）人： | 克洛纳测量技术有限公司 |
| 主分类号： | H01Q13/24 | 分类号： | H01Q13/24 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李永波;汲长志 |
| 地址： | 德国杜*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 描述一种介质天线(1)，其具有介质馈入段(2)、包括介质棒的第一过渡段(3)、构成介质喇叭的第二过渡段(4)和介质辐射段(5)，可以给馈入段(2)施加电磁辐射(6)，利用第一过渡段(3)和第二过渡段(4)传导电磁辐射(6)，然后从辐射段(5)将电磁辐射(6)作为自由空间波辐射出去。本发明的任务在于阐述一种能够以尽可能低损耗的方式适应各种安装情况、反射尽可能小且同时高度集束的介质天线。解决这一任务的方式是将上述介质天线的辐射段(5)设计成紧随第二过渡段(4)之后的介质管。 | ||
| 搜索关键词： | 介质天线 | ||
【主权项】：
一种介质天线，具有介质馈入段(2)、包括介质棒的第一过渡段(3)、构成介质喇叭的第二过渡段(4)和介质辐射段(5)，可以给馈入段(2)施加电磁辐射(6)，利用第一过渡段(3)和第二过渡段(4)传导电磁辐射(6)，然后从辐射段(5)将电磁辐射作为自由空间波辐射出去，其特征在于，将辐射段(5)设计成紧随第二过渡段(4)之后的介质管。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于克洛纳测量技术有限公司，未经克洛纳测量技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010247260.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
