[发明专利]使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法无效

专利信息
申请号: 201010248177.5 申请日: 2010-08-09
公开(公告)号: CN101915774A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 王海峰;李佳;孙国华;任玲玲 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01N25/04 分类号: G01N25/04;G01N1/32
代理公司: 北京科兴园专利事务所 11233 代理人: 王蕴;马经文
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种利用差示扫描量热仪测试有机物熔点的方法,包括如下步骤:先选定两种或几种标准物质,对差示扫描量热仪进行温度校准和热阻修正;然后将待测有机物样品装入玻璃毛细管中,并将盛有样品的毛细管放入差示扫描量热仪的坩埚内进行测定;热流-温度曲线的峰温度即为样品的全熔点,其结果与毛细管熔点仪测得的结果一致。拓宽了差示扫描量热法在全熔点测量中的应用。该方法将具有快速、准确、自动化程度高的优点,并且不需要对现有仪器进行改造。
搜索关键词: 使用 扫描 量热仪 测定 有机物 熔点 方法
【主权项】:
一种使用差示扫描量热仪测定有机物熔点的方法,其特征在于包括以下步骤:1.1.选定至少两种标准物质,所述的标准物质中熔点最低的应低于待测样品的熔点,熔点最高的应高于待测样品的熔点;1.2.用选定的标准物质校准差示扫描量热仪的温度值;然后用选定的标准物质测量仪器的热阻常数;1.3.将待测样品充分研磨,并放入干燥器中干燥过夜;干燥后的样品封装于玻璃毛细管中;将封有样品的玻璃毛细管一端取下,置入差示扫描量热仪的坩埚中进行测定;1.4.将测定得到的热流温度曲线的峰值温度进行热阻修正,得到有机物的全熔点。
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