[发明专利]线型激光扫描测头空间坐标规校正系统无效
| 申请号： | 201010249234.1 | 申请日： | 2010-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN102374845A | 公开（公告）日： | 2012-03-14 |
| 发明（设计）人： | 冯黎 | 申请（专利权）人： | 冯黎 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102600 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种线型激光扫描测头空间坐标规校正系统，由线型激光扫描测头、三坐标测量仪、校正规、校正算法、测量系统软件及计算机系统组成，线型激光扫描测头与三坐标测量仪机械连接，通过对校正规扫描测量获取测量数据(线型激光扫描测头测量值L0、L1、L2、以及三坐标测量仪从获取L1测量数据位置到获取L2测量数据位置时移动的坐标值Δ，经校正算法计算，得到将线型激光扫描测头测量数据L转换为与三坐标测量仪坐标系M一致的空间坐标数据的数据转换矩阵R及平移变换量T。操作三坐标测量仪利用激光扫描测头进行测量时，转换公式：M＝R*L+T，将激光扫描测头测量数据L转换为三坐标测量仪坐标系数据M。 | ||
| 搜索关键词： | 线型 激光 扫描 空间 坐标 校正 系统 | ||
【主权项】：
一种线型激光扫描测头空间坐标规校正系统，包括线型激光扫描测头(1)、与所述的线型激光扫描测头(1)机械连接的三坐标测量仪(2)、与所述的线型激光扫描测头(1)、所述的三坐标测量仪(2)电连接的计算机系统(3)，它还包括校正规(4)、校正算法(5)、测量系统软件(6)，其特征是：所述的校正规(4)用于测量校正面的几何形状由一组平行线组成的平面和一组梯形线组成的平面构成，所述的校正算法(5)根据所述的线型激光扫描测头(1)在所述的校正规(4)平行线组成的平面上的扫描测量数据L0、在所述的校正规(4)梯形线组成的平面上的扫描测量数据L1和L2、以及所述的三坐标测量仪(2)从获取L1测量数据位置到获取L2测量数据位置时移动的坐标值Δ计算得到将线型激光扫描测头测量数据L转换为与三坐标测量仪坐标系M一致的空间坐标数据的数据转换矩阵R及平移变换量T。
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