[发明专利]地层的品质因子谱及其求取方法无效
| 申请号： | 201010249439.X | 申请日： | 2010-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN102023311A | 公开（公告）日： | 2011-04-20 |
| 发明（设计）人： | 孙成禹;印兴耀;宫同举;张广智;吴国忱;唐杰 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学(华东) |
| 主分类号： | G01V1/28 | 分类号： | G01V1/28 |
| 代理公司： | 山东济南齐鲁科技专利事务所有限公司 37108 | 代理人： | 宋永丽 |
| 地址： | 257000 *** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供地层的品质因子谱及其求取方法，是基于零偏VSP数据，利用频谱比法求取品质因子值，具体步骤为：选取合理的初至跟时窗参数，对原始剖面进行频谱分析；拾取频谱有效频带内的峰值频率，得出其平滑后的走势；对原始频谱进行归一化处理，然后利用平滑走势对频谱再进行校正；利用相邻道频谱比较，得出用于组合的频谱比数据；针对组合后的频谱比数据，求取多个品质因子Q值，或是用Q值补偿衰减道的方式进行Q扫描，获得跟参考道频谱的相似系数，形成Q谱，并通过对Q谱的解释获取稳定的Q值；其优点是：尽可能的去除了频谱野值对线性拟合带来的影响，增加频谱信息的利用率，得出更合理的Q值。 | ||
| 搜索关键词： | 地层 品质 因子 及其 求取 方法 | ||
【主权项】：
地层的品质因子谱及其求取方法，是基于零偏VSP数据，利用频谱比法求取品质因子值，其特征在于具体步骤为：(1)选取合理的初至跟时窗参数，对原始剖面进行频谱分析；(2)拾取频谱有效频带内的峰值频率，得出其平滑后的走势；(3)对原始频谱进行归一化处理，然后利用平滑走势对频谱再进行校正；(4)利用相邻道频谱比较，得出用于组合的频谱比数据；(5)针对组合后的频谱比数据，采取直接求取品质因子Q值或是用Q值补偿衰减道的方式，求取跟参考道频谱的相似系数。
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