[发明专利]AlGaInP发光二极管的制备方法在审
申请号: | 201010253677.8 | 申请日: | 2010-08-13 |
公开(公告)号: | CN102376827A | 公开(公告)日: | 2012-03-14 |
发明(设计)人: | 肖志国;高百卉;常远;高本良;武胜利;王力明;陈向东 | 申请(专利权)人: | 大连美明外延片科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 116025 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | AlGaInP发光二极管的制备方法。是将发光二极管芯片半切后用腐蚀方法制成,工艺步骤为将发光二极管芯片半切,半切深度40~60um;放置在2寸的真空吸盘上,开启真空;用腐蚀液,对芯片表面进行腐蚀;20~120秒后开启匀速旋转设备,将腐蚀液甩掉,然后冲水;用氮气枪吹干。所述腐蚀液为氨水-双氧水-无离子水溶液(体积配比为1∶2~5∶1)或次氯酸钠腐蚀液(配比为1∶15~20)。腐蚀进行1~2次。通过湿法腐蚀的方法,对任意尺寸发光二极管芯片均适用,亮度提升明显,可以高达12~35%,具有良好的重复性。并且本发明提供的方法设备简单,工艺简单,成本低,尤其适合小尺寸芯片的量产。 | ||
搜索关键词: | algainp 发光二极管 制备 方法 | ||
【主权项】:
AlGaInP发光二极管的制备方法,其特征在于将发光二极管芯片半切后用腐蚀方法制成,工艺步骤为:(1)将发光二极管芯片半切,半切深度40‑60um;(2)将整片芯片放置在2寸的真空吸盘上,开启真空;(3)向漏斗里倒入腐蚀液,使腐蚀液均匀的平铺在芯片表面,对芯片进行腐蚀;(4)20~120秒后开启匀速旋转设备,将腐蚀液甩掉,然后冲水;(5)用氮气枪吹干。所述腐蚀液为氨水‑双氧水‑无离子水腐蚀液或次氯酸钠腐蚀液;氨水‑双氧水‑无离子水腐蚀液中氨水、双氧水与无离子水的体积配比为1∶2~5∶1;次氯酸钠腐蚀液中次氯酸钠溶液与水的体积配比为1∶15~20;其中:氨水浓度为28~30%;双氧水的浓度为30~32%;次氯酸钠溶液浓度为5~7%。
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