[发明专利]箱体槽位检验装置及箱体槽位检验方法有效
申请号: | 201010254103.2 | 申请日: | 2010-08-12 |
公开(公告)号: | CN101949674A | 公开(公告)日: | 2011-01-19 |
发明(设计)人: | 赖建宇;罗文彬;陈清福 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01B5/30 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;李岩 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明揭露一种箱体槽位检验装置及利用该箱体槽位检验装置的箱体槽位检验方法。该箱体槽位检验装置包含一底座、一探针检验机构及一升降机构。该探针检验机构包含一支架及多个探针,该支架上形成多个通孔,该多个探针是以能独立地上下滑动的方式对应地设置于该多个通孔中。该升降机构连接该底座及该探针检验机构。于操作时,将一箱体放置于该底座上,并使该箱体的开口朝上;接着操作该升降机构以使该探针检验机构朝下移动,以使该多个探针能对应地伸入该箱体的多个槽位中。藉此,该数个槽位可同时被检验,大幅减少检验时间。 | ||
搜索关键词: | 箱体 检验 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种箱体槽位检验装置,用于同时检验具有一开口的一箱体内的多个槽位,其特征在于,该箱体槽位检验装置包含有:一底座,用以承载该箱体;一探针检验机构,其包含一支架及多个探针,该支架上形成多个通孔,该多个探针是对应地设置于该多个通孔中,每一个探针能独立地滑动于该对应的通孔中;以及一升降机构,其连接该底座及该探针检验机构,以使该探针检验机构能相对于该底座上下移动。
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