[发明专利]PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置有效
| 申请号： | 201010257010.5 | 申请日： | 2010-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN102376096A | 公开（公告）日： | 2012-03-14 |
| 发明（设计）人： | 刑宇翔;张丽;陈志强;张文宇;赵自然;肖永顺;李亮;黄志峰 | 申请（专利权）人： | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00;A61B6/03;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 张晓冬;李家麟 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种PI线选取和采样方法和装置以及CT图像重建方法和装置。本发明PI线选取和采样方法包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线和在所述PI线上等距离选取采样点。本发明CT图像重建方法的技术方案根据本发明PI线选取和采样方法所得到的PI线所相关的投影数据重建所选取的采样点并把上述重建结果采样成直角坐标系下的均匀像素。本发明PI线选取和采样装置以及CT图像重建装置的技术方案分别对应于本发明PI线选取和采样方法以及CT图像重建方法的技术方案。采样本发明的技术方案能够得到全局一致性的采样点。 | ||
| 搜索关键词： | pi 选取 采样 方法 装置 以及 ct 图像 重建 | ||
【主权项】：
一种PI线选取和采样方法，其特征在于，包括步骤：在螺旋轨道上选取在XY平面上投影互相平行且等间距分布的PI线；在所述PI线上等距离选取采样点。
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