[发明专利]基于三聚硫氰酸修饰的金胶纳米探针比色测定汞离子的方法无效
| 申请号： | 201010257258.1 | 申请日： | 2010-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN102374988A | 公开（公告）日： | 2012-03-14 |
| 发明（设计）人： | 何品刚;吴继魁;王琪;张小燕;程圭芳 | 申请（专利权）人： | 华东师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/78 | 分类号： | G01N21/78 |
| 代理公司： | 上海麦其知识产权代理事务所(普通合伙) 31257 | 代理人： | 董红曼 |
| 地址： | 200062 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于三聚硫氰酸修饰的金胶纳米探针简单、快速测定汞离子的方法，其特征在于，采用三聚硫氰酸作为汞离子的识别元件，利用三聚硫氰酸修饰的金胶纳米为探针实现比色检测水溶液中的汞离子含量。使用本发明的测定汞离子的方法不会对环境产生污染，对汞离子选择性好，能够排除大多数金属离子的干扰；且所需仪器简单，价格便宜，适用于野外等简陋场合使用。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 三聚 氰酸 修饰 纳米 探针 比色 测定 离子 方法 | ||
【主权项】：
一种基于三聚硫氰酸修饰的金胶纳米探针比色测定汞离子浓度的方法，其特征在于，采用三聚硫氰酸作为汞离子的识别元件，利用三聚硫氰酸修饰的金胶纳米为探针实现比色检测水溶液中的汞离子含量。
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