[发明专利]计数光子的系统和方法有效
申请号: | 201010257329.8 | 申请日: | 2010-08-19 |
公开(公告)号: | CN101996344A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 金圣洙;姜东求;成映勋;李宗河;韩锡旼;李性德 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06M1/272 | 分类号: | G06M1/272 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 韩明星;王青芝 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 公开了一种计数光子的系统和方法。通过多个计数器计数光子。每个计数器产生用于光子检测器的输出的指示每个计数器的可用性的标记信号。产生的标记信号被输入到控制切换单元的控制单元。基于接收的标记信号,控制单元允许信号被输入到未处于死区时间的计数器。 | ||
搜索关键词: | 计数 光子 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种光子计数系统,所述系统包括:计数单元,包括多个配置为分别计数由传感器单元检测的光子的计数器;切换单元,将来自传感器单元的电信号选择性地电提供给至少一个计数器,所述电信号表示由传感器单元进行的光子的可能的检测;控制单元,基于一个或多个接收的标记信号,控制切换单元来将电信号选择性地电提供给至少一个计数器,所述标记信号指示多个计数器中的一个或多个计数器是否处于各自的死区时间,所述死区时间能够在处于死区时间的分别的一个或多个计数器进行多个光子检测中导致多个电荷的分别的堆积,所述控制单元将电信号选择性地提供给未处于死区时间的至少一个计数器。
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