[发明专利]一种制备高纯度单壁碳纳米管垂直阵列的方法无效

专利信息
申请号: 201010262098.X 申请日: 2010-08-25
公开(公告)号: CN101948105A 公开(公告)日: 2011-01-19
发明(设计)人: 赵斌;杨俊和;王现英;杨光智;何星;唐志红;张磊 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: C01B31/02 分类号: C01B31/02
代理公司: 上海东创专利代理事务所(普通合伙) 31245 代理人: 宁芝华
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种制备高纯度单壁碳纳米管垂直阵列的方法。具体而言,涉及一种常压下的水分辅助化学气相沉积方法,为以氧化铝负载的过渡金属Fe为催化剂,以惰性气体和氢气为载气,通过向化学气相沉积气氛中添加50-1000ppm浓度的水分以提高催化剂效率和寿命,制得垂直于基片排列的高纯度单壁碳纳米管。本发明方法可在十分钟之内生长出较高的碳纳米管阵列,并且单壁纳米管的碳纯度可高达99wt%。
搜索关键词: 一种 制备 纯度 单壁碳 纳米 垂直 阵列 方法
【主权项】:
一种制备垂直排列单壁碳纳米管阵列的方法,为基于常压化学气相沉积技术,以氧化铝负载的Fe为催化剂,惰性气体和氢气为载气,通过向生长气氛中添加50‑1000ppm浓度的水分,制得垂直于基片排列的单壁碳纳米管。
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