[发明专利]具有减少的杂散光部分的测量装置有效

专利信息
申请号: 201010263275.6 申请日: 2010-08-25
公开(公告)号: CN101995568A 公开(公告)日: 2011-03-30
发明(设计)人: H·古灵;M·弗格尔 申请(专利权)人: 特里伯耶拿有限公司
主分类号: G01S7/481 分类号: G01S7/481
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 杨晓光;于静
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种具有减少的杂散光部分的测量装置。一种利用光线进行测量的装置被配备有用于减少杂散光的遮盖器。所述装置包括:沿光轴的透镜阵列(100);棱镜,其被附接到所述透镜之一上并具有斜面,用于将从设置在所述光轴的侧向上的光源入射的光线耦合到所述光轴上,使得所述光线能够沿所述光轴穿过所述透镜阵列;接收器,其用于接收从物体反射回的光线的部分;以及遮盖器,其用于所述棱镜的至少一个区域,所述遮盖器散射作为朝向所述接收器的杂散光的光线的部分。
搜索关键词: 具有 减少 散光 部分 测量 装置
【主权项】:
一种利用光线进行测量的装置,包括:沿光轴(110)的透镜阵列(100);棱镜(120),其被附接到所述透镜之一上并具有斜面(130),用于将设置在所述光轴的侧向上的光源(140)的光线耦合到所述光轴(110)上,使得所述光线能够沿所述光轴(110)穿过所述透镜阵列(100);接收器(150),其用于接收从物体反射回的光线的部分;以及遮盖器(160),其用于所述棱镜的至少一个区域,所述遮盖器导引作为朝向所述接收器的杂散光的光线的部分,其中所述遮盖器被附接在所述棱镜上。
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