[发明专利]空间光学分布函数测量方法无效

专利信息
申请号: 201010263625.9 申请日: 2010-08-25
公开(公告)号: CN102162751A 公开(公告)日: 2011-08-24
发明(设计)人: 刘子龙 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01J3/457 分类号: G01J3/457
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100013 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种空间光学分布函数测量方法,其包括以下过程:测量无样品状态下入射光源的垂直入射亮度值及相应的反射立体角,计算通过理论推演得到的空间光学分布函数算子;设置测试角度;根据所述空间光学分布函数算子和所述测试角度,计算空间光学分布函数的绝对量值。在整个测量过程中,采用光谱辐射计作为信号探测系统来测量。本发明将实现辐亮度测量的光谱辐射计作为信号的探测器进行快速测量,既可以将空间光学分布函数测定需要限定的光学条件集成在光谱辐射计上,最大限度的减小了系统误差和分别校准带来的困难;又可以实现整个光谱区域的快速测量,为大量的数据测量带来了方便。
搜索关键词: 空间 光学 分布 函数 测量方法
【主权项】:
一种空间光学分布函数测量方法,其特征在于,包括以下过程:测量无样品状态下入射光源的垂直入射亮度值及相应的反射立体角,计算通过理论推演得到的空间光学分布函数算子;设置测试角度;根据所述空间光学分布函数算子和所述测试角度,计算空间光学分布函数的绝对量值。
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