[发明专利]单面快速调整探针高度的迫紧机构、方法及电阻测量设备无效

专利信息
申请号: 201010266467.2 申请日: 2010-08-27
公开(公告)号: CN102384990A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 郑兆希;胡维彦 申请(专利权)人: 向熙科技股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067;G01R1/073;G01R27/02;G01R31/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 任默闻
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 单面快速调整探针高度的迫紧机构、方法及电阻测量设备。本发明揭露一种探针迫紧机构,用以在微调探针高度后,快速固定探针于一探针板所预设的通孔中,探针迫紧机构包括:一固定元件,设有一紧配部及一第一斜面延伸部,固定元件以紧配部固设于通孔下半部;及一定位元件,设有一帽檐及一第二斜面延伸部,固定探针时,对帽檐施力将定位元件压入通孔,使第二斜面延伸部紧配于第一斜面延伸部,以对探针提供一径向压迫力来使探针固定。本发明相对于现有技术的功效,可更方便且迅速的调整及固定探针,缩短测量电阻值之前准备流程所需耗费的时间。
搜索关键词: 单面 快速 调整 探针 高度 机构 方法 电阻 测量 设备
【主权项】:
一种探针迫紧机构,用以固定探针于一探针板所预设的通孔中,其特征在于,所述的探针迫紧机构包括:一固定元件,设有一紧配部及一第一斜面延伸部,所述固定元件以所述紧配部固设于所述通孔下半部;及一定位元件,设有一帽檐及一第二斜面延伸部,固定所述探针时,对所述帽檐施力将所述定位元件压入所述通孔,使所述第二斜面延伸部紧配于所述第一斜面延伸部,以对所述探针提供一径向压迫力来使探针固定。
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