[发明专利]半导体光电探测器元件和半导体装置有效
申请号: | 201010267198.1 | 申请日: | 2010-08-24 |
公开(公告)号: | CN101997054A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 夏秋和弘 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L31/101 | 分类号: | H01L31/101 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 彭久云 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体光电探测器元件和半导体装置,该半导体光电探测器元件的制造成本被降低且精度被提高。该半导体光电探测器元件包括:第一光电二极管,形成在P型硅基板中;第二光电二极管,形成在P型硅基板中并且具有与第一光电二极管相同的结构;由绿色滤色器形成在第一光电二极管上方的滤色器层;由黑色滤色器形成在第二光电二极管上方的滤色器层;以及运算电路部,将第二光电二极管的检测信号从第一光电二极管的检测信号减去。 | ||
搜索关键词: | 半导体 光电 探测器 元件 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体光电探测器元件,包括:第一光接收元件部,形成在一导电类型的半导体层中;第二光接收元件部,形成在所述半导体层中并具有与所述第一光接收元件部相同的结构;第一滤色器,形成在所述第一光接收元件部上方且透射第一波长范围内的光以及第二波长范围内的光,所述第二波长范围不同于所述第一波长范围;以及第二滤色器,形成在所述第二光接收元件部上方且透射第三波长范围内的光,所述第三波长范围包括在所述第二波长范围内,其中所述半导体光电探测器元件构造为计算所述第一光接收元件部的检测信号与所述第二光接收元件部的检测信号之间的差。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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