[发明专利]偏振检测装置中器件误差的测量方法有效
| 申请号： | 201010268324.5 | 申请日： | 2010-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN101936774A | 公开（公告）日： | 2011-01-05 |
| 发明（设计）人： | 李中梁;王向朝;唐锋 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J4/04 | 分类号： | G01J4/04 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种偏振检测装置中器件误差的测量方法，所述的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器件、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，其特点在于，斯托克斯参数已知的线偏振光入射至所述的偏振检测装置，设定第一次测量的初始状态并进行测量；设定第二次测量的初始状态并进行测量，第二次测量的初始状态是在第一次测量的初始状态的基础上，分别旋转相位延迟器件和检偏器一定的角度，满足检偏器的旋转角度为相位延迟器件旋转角度的2倍，且旋转方向相同，对测量进行数据处理获得器件的误差。本发明在无需拆卸偏振检测装置器件的情况下，可快速测量相位延迟器件和检偏器的各类误差。 | ||
| 搜索关键词： | 偏振 检测 装置 器件 误差 测量方法 | ||
【主权项】：
一种偏振检测装置中器件误差的测量方法，所述的偏振检测装置的构成包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器件、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，其特征在于：所述的入射光束的斯托克斯参数是已知的；第一次测量时的初始状态为所述的相位延迟器件的快轴角度为θ1、所述的检偏器的透光轴角度为α1，进行第一次测量；第二次测量时的初始状态是在第一次测量初始状态的基础上，再沿同一方向旋转所述的相位延迟器件和所述的检偏器的角度，使相位延迟器件的快轴角度为θ1+β，所述的透射轴角度为α1+2β，进行第二次测量；所述的信号处理系统对测量数据进行处理，经计算后得到器件误差。
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