[发明专利]影像法齿条测量方法无效
| 申请号： | 201010269505.X | 申请日： | 2010-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN101982729A | 公开（公告）日： | 2011-03-02 |
| 发明（设计）人： | 孔明;刘宇;赵军;李轶凡;陈淑星;侯蕊;管清岩;汪晨 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01B11/14 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 杜军 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种影像法齿条测量方法。传统的测量方法测量范围窄，测量对象范围小。本发明首先由图像采集系统采集齿条图像，将采集得到的齿条图像转换成二值图像；其次对二值图像进行闭运算，去除毛刺点或毛刺线；再次运用形态学对二值图像进行边缘提取，获得二值图像的边缘；最后统计相应位置的像素点个数得到对应的齿厚和齿距。本发明方法由于没有受到测量力的影响，从而可以真实地反映出齿条的细微轮廓变化。 | ||
| 搜索关键词： | 影像 齿条 测量方法 | ||
【主权项】：
1.影像法齿条测量方法，其特征在于该方法包括以下步骤：步骤(1)由图像采集系统采集齿条图像，将采集得到的齿条图像转换成二值图像；步骤(2)对二值图像进行闭运算，去除毛刺点或毛刺线，从而平滑二值图像的轮廓；步骤(3)运用形态学对二值图像进行边缘提取，获得二值图像的边缘；步骤(4)对于得到的二值图像的边缘，统计相邻的单齿内分度线上的像素点个数，得到总像素点个数为m，计算得到齿厚![]()
统计单个齿距内的像素点个数，得到单个齿距内像素点总个数m’，计算得到齿距p＝m′×L，其中L为每个像素所代表的实际长度，由图像采集系统确定。
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