[发明专利]对向靶反应溅射外延Fe4N薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 201010272048.X 申请日: 2010-09-03
公开(公告)号: CN101914751A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 米文博;封秀平;白海力 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: C23C14/06 分类号: C23C14/06;C23C14/34
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 王丽
地址: 300072 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及对向靶反应溅射外延Fe4N薄膜的制备方法;在镀膜机对向的靶头上安装一对纯度为99.99%的Fe靶,将基底安装在对向靶连线的中垂线上,基片与对向靶的两个Fe靶连线的垂直距离为4cm;开启对向靶磁控溅射,溅射室的背底真空度为8×10-6Pa;向真空室通入纯度为99.999%的溅射气体Ar和N2,开启溅射电源,在一对Fe靶上施加0.05A的电流和1175V的直流电压,预溅射10分钟,通过调节基底温控电源,使基底温度以5K/min的速度降低到450℃,溅射结束后,使样品以3K/min的速度降低到室温。与常用制备外延Fe4N薄膜的分子束外延法相比,靶材选择简单,采用Fe靶作为靶材来制备外延Fe4N薄膜,从工业上更为容易获得。
搜索关键词: 反应 溅射 外延 fe sub 薄膜 制备 方法
【主权项】:
对向靶反应溅射外延Fe4N薄膜的制备方法,其特征是方法如下:1)在镀膜机对向的靶头上安装一对纯度为99.99%的Fe靶,一头作为磁力线的N极,另一头为S极;2)将基底安装在对向靶连线的中垂线上,基片与对向靶的两个Fe靶连线的垂直距离为4cm;3)开启对向靶磁控溅射设备,启动一级机械泵和二级分子泵抽真空,直至溅射室的背底真空度为8×10 6Pa;4)向真空室通入纯度为99.999%的溅射气体Ar和N2,其中Ar为100sccm,N2气为20sccm,通过调节超高真空闸板阀的开启程度,将溅射室的真空度保持在1Pa,并稳定5分钟;5)开启溅射电源,在一对Fe靶上施加0.05A的电流和1175V的直流电压,预溅射10分钟,等溅射电流和电压稳定;6)通过调节基底温控电源,使基底温度以5K/min的速度降低到450℃,打开Fe靶侧面和基片之间的档板开始溅射,基片位置固定;溅射过程中,基底温度继续保持;7)溅射结束后,关闭Fe靶侧面和基片之间的档板,然后关闭溅射电源,停止通入溅射气体Ar和N2,完全打开闸板阀,继续抽真空,并调节基底温控电源,使样品以3K/min的速度降低到室温,然后关闭真空系统,向真空室充入纯度为99.999%的氮气,打开真空室,取出样品。
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