[发明专利]一种光学零件几何参数非接触测量方法及其测量装置有效
| 申请号： | 201010273721.1 | 申请日： | 2010-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN101922919A | 公开（公告）日： | 2010-12-22 |
| 发明（设计）人： | 梁海锋;刘缠牢 | 申请（专利权）人： | 西安工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/06 |
| 代理公司： | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人： | 黄秦芳 |
| 地址： | 710032*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于一种几何量的非接触光学测量领域，具体是一种光学零件几何参数非接触测量方法及其测量装置。本发明要克服现有技术存在的速度慢，测量动态范围小，成本昂贵，不适用于在线快速测量的问题。为了克服现有技术存在的问题，本发明提供的技术方案是：一种光学零件几何参数非接触测量方法：对平行光进行电扫描光开关的调制，形成环带状平行光，经锥透镜(螺纹透镜)会聚实现不同距离的会聚点，利用会聚点瞄准并识别光学零件的表面，从而实现对光学零件几何厚度、移动距离以及光学透镜中心高的测量。本发明具有以下优点：成本低，稳定性好，适合快速在线测量，可以实现比光谱扫描类仪器大的测量动态范围，同时仪器结构简单，容易加工。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 零件 几何 参数 接触 测量方法 及其 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光学零件几何参数非接触测量方法：是对平行光进行电扫描光开关的调制，形成环带状平行光，经锥透镜(螺纹透镜)会聚实现不同距离的会聚点，利用会聚点瞄准并识别光学零件的表面，从而实现对光学零件几何厚度、移动距离以及光学透镜中心高的测量。
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