[发明专利]动态分析散射子分布变化的方法及其应用无效

专利信息
申请号: 201010274776.4 申请日: 2010-08-30
公开(公告)号: CN102379721A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 李梦麟;刘浩澧;黎大维 申请(专利权)人: 国立清华大学
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00;A61B19/00;G06F19/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 郭蔚
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种动态分析散射子分布变化的方法系利用机率密度函数搭配移动窗口(moving window)技巧来分析超音波数据的二维或三维空间中散射子分布及浓度变化情形。本发明的运算量相当低,因此可以达成实时化的成像。此外亦揭示一种动态检测烧灼区域及分析烧灼程度的方法以及一种动态控制烧灼强度的方法,其可达成非侵入式检测及烧灼。
搜索关键词: 动态 分析 散射 分布 变化 方法 及其 应用
【主权项】:
一种动态分析散射子分布变化的方法,包含下列步骤:依序先后取得一样品的一第一超音波数据及一第二超音波数据,其中该第一及第二超音波数据分别具有多个相对应的坐标点及由多个散射子所形成的多个斑点;定义一窗口的尺寸;利用一机率密度函数计算每一所述坐标点的统计参数,该统计参数表示每一所述的坐标点在该窗口内的所述斑点信号大小的统计分布;以及比较该第一及第二超音波数据中每一所述相对应的坐标点的所述统计参数,以分析该样品的所述散射子分布改变情形。
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