[发明专利]半导体封装件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201010274904.5 申请日: 2010-08-30
公开(公告)号: CN101969051A 公开(公告)日: 2011-02-09
发明(设计)人: 翁肇甫;王昱祺 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L23/14 分类号: H01L23/14;H01L23/28;H01L21/48
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陆勍
地址: 中国台湾高雄市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体封装件及其制造方法。半导体封装件包括预布结构、强化结构、半导体组件、重布结构及介电连接层。半导体组件具有相对的主动表面与背面,半导体组件的主动表面朝向强化结构,而其背面朝向预布结构。重布结构形成于预布结构上并包覆半导体组件,重布结构电性连接于主动表面及预布结构。介电连接层位于强化结构与重布结构之间。
搜索关键词: 半导体 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
一种半导体封装件,包括:一预布结构;一强化结构;一第一半导体组件,具有相对的一主动表面与一背面,该主动表面朝向该强化结构,而该背面朝向该预布结构;一重布结构,形成于该预布结构与该强化结构之间并包覆该第一半导体组件,该重布结构电性连接于该主动表面及该预布结构;以及一介电连接层,位于该强化结构与该重布结构之间。
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