[发明专利]存储卡读写信号测试装置无效
申请号: | 201010277056.3 | 申请日: | 2010-09-09 |
公开(公告)号: | CN102403045A | 公开(公告)日: | 2012-04-04 |
发明(设计)人: | 徐凤 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种存储卡读写信号测试装置,用于测试一待测印刷电路板的存储卡读写信号,测试装置包括测试设备及转接卡,待测印刷电路板上包括卡槽,测试装置包括转接卡槽、开关单元及存储卡槽,开关单元包括若干开关,每一开关的两端分别连接转接卡槽中的一引脚及存储卡槽中的一引脚,每一开关两端的任意位置设备一测量点,转接卡连接所述测试设备上的转接卡槽与待测印刷电路板上的卡槽,测试设备上的存储卡槽用于插接一存储卡。存储卡读写信号测试装置通过转接卡及测试设备即可实现对待测印刷电路板上存储卡读写信号的测试,而不需要在待测印刷电路板上焊接测试点,节省了测试成本,方便了测试。 | ||
搜索关键词: | 存储 读写 信号 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种存储卡读写信号测试装置,用于测试一待测印刷电路板的存储卡读写信号,所述存储卡读写信号测试装置包括一测试设备及一转接卡,所述待测印刷电路板上包括一卡槽,所述测试装置包括一转接卡槽、一开关单元及一存储卡槽,所述开关单元包括若干开关,每一开关的两端分别连接所述转接卡槽中的一引脚及所述存储卡槽中的一引脚,每一开关两端的任意位置设置一测量点,用于电性连接一测量仪器,所述转接卡用于连接所述测试设备上的转接卡槽与所述待测印刷电路板上的卡槽,所述测试设备上的存储卡槽用于插接一存储卡。
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