[发明专利]一种柔性热敏薄膜电阻阵列的制作方法有效

专利信息
申请号: 201010277878.1 申请日: 2010-09-09
公开(公告)号: CN101950644A 公开(公告)日: 2011-01-19
发明(设计)人: 马炳和;傅博;董拴成 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: H01C7/02 分类号: H01C7/02;H01C7/04
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 吕湘连
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种柔性热敏薄膜电阻阵列的制作方法,属于微机电系统(MEMS)领域。该方法首先在硅片上沉积一层牺牲层;在其上旋涂PI预聚体,经热固化形成PI薄膜;然后旋涂光刻胶,光刻图形化后溅射所需的金属热敏薄膜层;采用剥离的方法得到热敏薄膜层图形;之后再旋涂光刻胶,光刻图形化后电镀形成电连接金属层;去胶后可以对热敏电阻进行热处理;最后沉积一层聚对二甲苯保护层,去除牺牲层后得到柔性薄膜电阻阵列。本发明工艺简单,热敏电阻的连接性更为可靠,导线电阻的干扰也较小,使得其作为传感器敏感元件时测量精度大为提高,且能够在保证感器敏感性的条件下,应用于潮湿、水下等环境。
搜索关键词: 一种 柔性 热敏 薄膜 电阻 阵列 制作方法
【主权项】:
一种柔性热敏薄膜电阻阵列的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:清洗硅片,去除表面原生氧化层、有机物污染,然后干燥;步骤二:在硅片表面沉积一层牺牲层;步骤三:采用多次涂布的方法,旋涂PI预聚体,采用阶梯升温法热固化形成PI薄膜;步骤四:旋涂光刻胶,并对其进行光刻、显影,使热敏电阻阵列及其电连接部分的图形定义在光刻胶图形层;所述电连接部分包括导线和焊盘;步骤五:在光刻胶图形层上溅射所需的金属热敏薄膜层;步骤六:去除光刻胶图形层,同时剥离掉光刻胶图形层上附着的金属热敏薄膜,使需要的热敏薄膜层图形保留下来,然后干燥;步骤七:旋涂光刻胶,对其进行光刻、显影,使电连接层的图形定义在光刻胶图形层;步骤八:采用电镀的方法,沉积一层电连接层,由于光刻胶图形层的遮挡,只有电连接部分沉积出金属电连接层,热敏电阻部分被光刻胶图形层保护起来;步骤九:将光刻胶图形层去除,之后对热敏电阻进行热处理,消除薄膜沉积时产生的应力;步骤十:将焊盘部分保护后,放入聚对二甲苯(parylene)的沉积室,沉积一层聚对二甲苯保护层,沉积结束后裸露出焊盘;步骤十一:划片后用对应的牺牲层刻蚀液去除牺牲层,释放PI薄膜,得到柔性热敏薄膜电阻阵列。
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