[发明专利]一种三维结构非易失存储器阵列及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201010279505.8 申请日: 2010-09-13
公开(公告)号: CN101976676A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 蔡一茂;黄如;秦石强;唐粕人;张丽杰;唐昱 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L27/24 分类号: H01L27/24;H01L45/00
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种三维结构阻变存储器阵列及其制造方法,属于超大规模集成电路制造技术中的非易失存储器技术领域。本发明三维结构阻变存储器阵列包括衬底和底电极/隔离介质堆栈结构,在底电极/隔离介质堆栈结构上刻蚀出深槽,在深槽侧壁上淀积阻变材料以及顶电极层,其中底电极和顶电极在深槽侧壁上呈十字交叉,交叉点之间有阻变材料,每个交叉点形成一个阻变存储器单元,所有的阻变存储器单元形成三维阻变存储器阵列,阵列中的三维阻变存储器由隔离介质层隔离。本发明可以提高阻变存储器的存储密度,并且简化工艺,降低工艺成本。
搜索关键词: 一种 三维 结构 非易失 存储器 阵列 及其 制备 方法
【主权项】:
一种三维结构阻变存储器阵列,其特征在于,包括衬底和底电极/隔离介质堆栈结构,在底电极/隔离介质堆栈结构上刻蚀而成多个深槽,在上述深槽内设有阻变材料层和顶电极材料层,形成十字交叉的横向底电极和纵向顶电极,交叉的底电极和顶电极之间为阻变材料,每个交叉结构为一个阻变存储单元,从而形成三维阻变存储器阵列。
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