[发明专利]微小物体表面积周长并行精密测量系统

摘要

本发明名称为“微小物体表面积周长并行精密测量系统”，它将短程线主动轮廓线应用于不规则形状的图像多目标面积/周长并行测量问题中，开发出一种快速精确测量方法，并且将这种方法应用于二维图像测量机，实现了多个微小物体表面积/周长的快速准确测量。此外，使用了一种新颖的形心自标定技术，它不需要任何标准试件就能够准确完成像素尺寸当量的标定，最后求得被测物的真实表面积与周长。标定时移动导轨，并用双频激光器精确测量其位移。

主权项

本专利利用与哈尔滨工业大学光电测试技术与装备研究所合作研制的2维图像测量机，将短程线主动轮廓线(Geodesic active contour)模型应用于多个微小物体表面积和周长精密测量，研制出多个微小物体表面积和周长的并行精密测量系统，该系统充分使用了短程线主动轮廓线的拓扑独立性特征，该模型收敛稳定性好并且能够同时/并行检测图像中各个被测目标；同时，使用了一种新颖的形心自标定技术，在不需要标准试件的情况下就可以完成像素当量标定，并且具有较高的标定精确度，因此，本测量方法特别适用于缺少标准试件时多个微小不规则物体表面积和周长的并行精密测量，可以广泛应用于微型工业产品的几何量检测或者各种工业产品的微型缺陷定量检测，相应的测量重复性误差小于0.5％。