[发明专利]基于韦根效应的稳恒微弱磁场测量仪无效

专利信息
申请号: 201010282588.6 申请日: 2010-09-08
公开(公告)号: CN101975933A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 曹辉;李成龙;梁兆基;江少青 申请(专利权)人: 佛山科学技术学院
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02
代理公司: 佛山市永裕信专利代理有限公司 44206 代理人: 朱永忠
地址: 528000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种基于韦根效应的稳恒微弱磁场测量仪,该测量仪包括直流电源、韦根传感器、数据采集卡和计算机,所述数据采集卡输出端与装有LabVIEW编写的软件的计算机输入口相连接,还设有由支架支承的稳恒微弱磁场测量棒,所述稳恒微弱磁场测量棒由探头、高速马达、转轴组成并由外壳包裹,高速马达通过转轴驱动探头高速旋转,所述探头位于所述被测的稳恒微弱磁场中,该探头信号输出端与所述数据采集卡输入端连接。本测量仪能准确测量较小范围内的稳恒微弱磁场,并在计算机上显示出被测磁场的大小和方向。
搜索关键词: 基于 效应 微弱 磁场 测量仪
【主权项】:
一种基于韦根效应的稳恒微弱磁场测量仪,包括直流电源、韦根传感器、数据采集卡和计算机,所述数据采集卡输出端与装有LabVIEW编写的软件的计算机输入口相连接,其特征在于:还设有由支架支承的稳恒微弱磁场测量棒,所述稳恒微弱磁场测量棒由探头、高速马达、转轴组成并由外壳包裹,高速马达通过转轴驱动探头高速旋转,所述探头位于所述被测的稳恒微弱磁场中,该探头信号输出端与所述数据采集卡输入端连接。
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