[发明专利]一种基于剪切原理的相位解包裹方法无效

专利信息
申请号: 201010283103.5 申请日: 2010-09-16
公开(公告)号: CN102012668A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 钱晓凡 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: G03H1/22 分类号: G03H1/22
代理公司: 昆明正原专利代理有限责任公司 53100 代理人: 金耀生
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明是一种基于剪切原理的相位解包裹方法。1)首先在计算机中进行光场剪切干涉:2)通过剪切算法减少欠采样的发生:即将二维全息再现复光场与该光场的剪切光场相除,得到一个新光场,计算该新光场的相位,得到二维全息再现复光场相位沿横向或纵向的梯度;3)利用二维全息再现复光场相位沿横向或纵向的梯度计算二维全息再现复光场相位。本发明把剪切干涉原理引入到数字全息再现光场相位的重构中,通过在计算机中对数字全息再现光场作人为平移实现横向、纵向剪切干涉,得到几乎没有包裹的剪切相位分布,并建立相应的相位重构算法,使用该方法能得到比传统方法更好的相位重构结果。
搜索关键词: 一种 基于 剪切 原理 相位 包裹 方法
【主权项】:
一种基于剪切原理的相位解包裹方法,其特征在于按以下步骤进行:1)首先在计算机中进行光场剪切干涉:即对典型的N×M个数据点上的二维全息再现复光场,将该光场沿横向或纵向作s个像素的平移剪切,创建一个新的剪切光场,通过将两光场相叠加来实现灵敏度可调的剪切干涉;2)通过剪切算法减少欠采样的发生:即将二维全息再现复光场与该光场的剪切光场相除,得到一个新光场,计算该新光场的相位,得到二维全息再现复光场相位沿横向或纵向的梯度;3)利用二维全息再现复光场相位沿横向或纵向的梯度计算二维全息再现复光场相位:计算方法有两种:方法1:先假设行或列标小于s点处的相位值等于对应的相位梯度值,再用沿行或列的迭代求和计算行或列标大于s处的相位值;方法2:通过最小二乘建立N×M矩形网格上的离散泊松方程,再用离散余弦变换求解计算出相位值,得到相位值的最小二乘解。
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