[发明专利]平面相变存储器的制备方法无效

专利信息
申请号: 201010283557.2 申请日: 2010-09-15
公开(公告)号: CN102005535A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 张加勇;王晓峰;马慧莉;程凯芳;王晓东;杨富华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种平面相变存储器的制备方法,包括:在衬底上依次生长一层电热绝缘材料层,相变材料层和基底材料层;去除基底材料层的四边,形成基底;在相变材料层的上面和基底材料层的表面及侧面淀积侧墙材料层;去除基底材料层上表面的和相变材料层表面的侧墙材料层,在基底材料层的侧面将形成高和宽均为纳米尺寸的侧墙;去除基底材料层,只保留纳米尺寸的侧墙;去掉除了侧墙底部以外的所有相变材料,从而形成由侧墙和相变材料层构成的叠层侧墙;在该侧墙的一条边上搭上一条制作电极的金属层;去除侧墙以及侧墙表面上的金属层,从而形成中间夹有相变材料层的nano-gap电极;最后淀积一层绝缘材料,再在nano-gap电极两边的金属层上开孔并引出电极,完成平面相变存储器的制作。
搜索关键词: 平面 相变 存储器 制备 方法
【主权项】:
一种平面相变存储器的制备方法,包括如下步骤:步骤1:在衬底上依次生长一层电热绝缘材料层,相变材料层和基底材料层;步骤2:用光刻和干法刻蚀的方法去除基底材料层的四边,形成图形作为制备侧墙的基底;步骤3:在该相变材料层的上面和基底材料层的表面及侧面淀积侧墙材料层;步骤4:采用干法回刻,去除基底材料层上表面的和相变材料层表面的侧墙材料层,在基底材料层的侧面将形成高和宽均为纳米尺寸的侧墙;步骤5:用湿法腐蚀的方法去除基底材料层,只保留纳米尺寸的侧墙;步骤6:采用干法刻蚀的方法去掉除了侧墙底部以外的所有相变材料,从而形成由侧墙和相变材料层构成的叠层侧墙;步骤7:采用光刻或电子束光刻+薄膜淀积+剥离工艺在该侧墙的一条边上搭上一条制作电极的金属层;步骤8、再用湿法腐蚀的方法去除侧墙以及侧墙表面上的金属层,从而形成中间夹有相变材料层的nano‑gap电极;步骤9、最后淀积一层绝缘材料,再在nano‑gap电极两边的金属层上开孔并引出电极,完成平面相变存储器的制作。
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