[发明专利]具有AlGaN吸收层的热释电紫外探测器无效
申请号: | 201010284488.7 | 申请日: | 2010-09-17 |
公开(公告)号: | CN101976697A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | 李超;张燕;李向阳;王建禄;孙璟兰;孟祥建;袁永刚;贾嘉 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | H01L31/101 | 分类号: | H01L31/101;H01L31/0304 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 20008*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种具有AlGaN吸收层的热释电紫外探测器,其特征在于,器件结构包括:一衬底;一AlGaN吸收层,该吸收层生长在衬底上;一介电绝缘层,该介电绝缘层为孔型,对电极部分进行电隔离;一底电极,该底电极生长在介电绝缘层及其开孔处;一热释电薄膜层,该热释电薄膜层生长在底电极上;一金属上电极,该金属上电极与下电极交叉成十字或丁字形状等,上下电极重合面积位于介电绝缘层开孔处,为热释电薄膜层功能区。本发明的器件结构利用AlGaN薄膜作为紫外吸收层,利用紫外光吸收-热传递-热释电响应的过程避免了高铝组分AlGaN欧姆接触制备的困难,实现了热释电器件的紫外响应,突破了热释电器件响应波段的限制。 | ||
搜索关键词: | 具有 algan 吸收 热释电 紫外 探测器 | ||
【主权项】:
一种具有AlGaN吸收层的热释电紫外探测器器件,其结构为在衬底(1)上依次生长紫外吸收层(2)、介电绝缘层(3)、底电极(4)、热释电薄膜层(5)和金属上电极(6),其特征在于:所述的衬底(1)为蓝宝石、硅或氮化硅衬底;所述的紫外吸收层(2)为厚度不小于250nm的单层或多层AlGaN薄膜,其中Al组分从0变化到1。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的