[发明专利]一种硒鼓芯片的批量检测装置与方法

摘要

本发明公开了一种硒鼓芯片的批量检测装置与方法。该装置由盒体、打印机连接模块、芯片适配器卡座、继电器阵列模块、主控制模块、芯片状态显示模块和按钮开关构成。其中，芯片适配器卡座可设置所放待检测硒鼓芯片的数量并对硒鼓芯片进行固定；继电器阵列模块，用作激光打印机和硒鼓芯片电气连接的选通开关；主控制模块可实现打印机的各种信号采集、继电器控制和保存芯片检测状态。利用该装置可以实现对二单元以上的硒鼓芯片进行批量检测。采用上述本发明提供的装置和方法，可以减轻车间工人的劳动强度，提高了硒鼓生产时对硒鼓芯片检测的速度和效率。

主权项

一种硒鼓芯片的批量检测装置，该装置包括盒体、打印机连接模块、芯片适配器卡座、继电器阵列模块、主控制模块、芯片状态显示模块和按钮开关，其特征在于：所述打印机连接模块、继电器阵列模块、主控制模块和芯片状态显示模块放置在盒体内部，芯片适配器卡座和按钮开关位于盒体表面；打印机连接模块的一端连接激光打印机，另外两端分别连接到继电器阵列模块的一端和主控制模块的一端，继电器阵列模块的另外两端分别连接到主控制模块的一端和芯片适配器卡座，主控制模块的另外一端连接到芯片状态显示模块，按钮开关通过导线连接到主控制模块。