[发明专利]发光二极管漏电流测试方法及系统无效
| 申请号： | 201010285715.8 | 申请日： | 2010-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN102004181A | 公开（公告）日： | 2011-04-06 |
| 发明（设计）人： | 严伟;袁晨 | 申请（专利权）人： | 上海北京大学微电子研究院 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了可以实现温控的集LED漏电流与抗静电能力测试于一体的检测方案。本发明采用TLP测试系统测量漏电流，并引入恒温鼓风干燥箱控制箱实现温控调节，同时消除了空气中的湿度可能对静电测试结果的影响。采用本发明所述方法，既能利用TLP模型测量各个温度下通过LED的漏电流，反映出LED芯片的质量高低，又可以产生幅度连续可调的矩形短脉冲进行LED芯片的抗静电能力检测，说明器件存在的一些潜在失效机理。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 漏电 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种发光二极管漏电流测试系统，其特征在于，包括恒温装置、控制器及TLP测试装置；其中所述控制器连接至恒温装置，用于设置恒温装置内的恒温温度；所述TLP测试装置连接至恒温装置及控制器，用于测试需要放置在恒温装置内的发光二极管的漏电流，并将测试结果发送至控制器。
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