[发明专利]集成电路版图验证自适应扫描线解决方案

摘要

本发明公布了一种集成电路版图验证自适应扫描线解决方案(以下简称自适应方案)，所属的技术领域是集成电路计算机辅助设计领域，尤其是涉及集成电路版图的设计规则检查(DRC)和版图与原理图的一致性检查(LVS)领域。本发明创造性地提出了归并扫描线方法和索引扫描线方法，并将这两种方法相结合生成自适应扫描线解决方案，用于解决甚大规模集成电路版图验证过程中所面临的运行时间过长，验证效率低，进而导致版图无法验证的问题。自适应方案有效地利用了版图数据局部特征，极好地发挥了归并扫描线方法与索引扫描线方法的特征优势，极大地提高了版图验证效率。

主权项

一种甚大规模集成电路版图验证扫描线解决方案，其技术特征在于包含以下几个步骤：①统计当前扫描线上的经过边和变动边数量。②根据统计值来决定调用归并扫描线方法还是索引扫描线方法。③如果归并扫描线方法被调用。归并扫描线将进行全边遍历，清理无用离开边并且重建索引。④如果索引扫描线方法被调用。索引扫描线根据索引进行局部遍历，并将新进边插入历史边链表。索引扫描线不更新索引，同时也不删除无用离开边。⑤以上步骤重复若干次，直到所有边都被处理则停止。