[发明专利]一种高精度光学条纹位相提取方法无效

专利信息
申请号: 201010292179.4 申请日: 2010-09-21
公开(公告)号: CN102003948A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 钟金钢;翁嘉文 申请(专利权)人: 暨南大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 何淑珍;廖继海
地址: 510630 广东省*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种高精度光学条纹位相提取方法,采用公式对光学条纹进行自适应窗口傅里叶变换,然后再对完整一级频谱进行反傅里叶变换获得一级频谱光强分量I1(x),利用公式即可提取光学条纹各点的位相本发明的位相提取方法的特点在于光学条纹中的每一点所对应的伸缩因子a是自适应变化的。与现有的位相提取技术相比,本发明具有更高的位相提取精度。
搜索关键词: 一种 高精度 光学 条纹 位相 提取 方法
【主权项】:
1.一种高精度光学条纹位相提取方法,采用公式对光学条纹进行自适应窗口傅里叶变换,其中I(x)为通过信号采集系统获得的光学条纹,x为光学条纹的坐标,是窗口函数,a是伸缩因子,b是平移因子,f表示频率,j表示复数的虚部;通过平移因子b控制窗口在光学条纹上逐点移动进行窗口傅里叶变换,每进行一次窗口傅里叶变换,就提取该次变换的一级频谱,将所有一级频谱相加,就得到光学条纹的完整一级频谱F(f1);再采用公式对这完整一级频谱进行反傅里叶变换,利用公式即可提取光学条纹各点的位相其中Im[I1(x)]为复函数I1(x)的虚部,Re[I1(x)]为I1(x)的实部;其特征在于伸缩因子a的确定方法如下:首先提取光学条纹各点的瞬时频率finst(x);根据瞬时频率finst(x)来确定光学条纹中的每一点x所对应的自适应窗口傅里叶变换的最大窗口宽度wmax(x),最大窗口宽度wmax(x)按照以下规则来确定:在以x为中心的区间[x-Δx,x+Δx](Δx>0)内的最大瞬时频率为最小瞬时频率为满足条件的Δx最大值为Δxmax,则wmax(x)=2Δxmax;再根据最大窗口宽度wmax(x)确定伸缩因子a的大小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于暨南大学,未经暨南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010292179.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top