[发明专利]同时测量陶瓷收缩率和介电常数的装置及方法无效
| 申请号： | 201010293248.3 | 申请日： | 2010-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN102004121A | 公开（公告）日： | 2011-04-06 |
| 发明（设计）人： | 殷晓星;赵洪新;王磊;包一鸣 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01R27/26 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 叶连生 |
| 地址： | 210096 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 同时测量陶瓷收缩率和介电常数的装置包括低温共烧结陶瓷(LTCC)基板(1)和位于LTCC基板(1)上两个结构形式相似且并排排列的第一谐振电路(2)、第二谐振电路(3)，其中：第一谐振电路(2)的中间是第一矩形微带环谐振器(4)，两侧是第一L形输入输出微带线(5)，第一矩形微带环谐振器(4)与第一L形输入输出微带线(5)相邻的一端之间是第一耦合缝隙(6)，第二谐振电路(3)的中间是第二矩形微带环谐振器(7)，两侧是第二L形输入输出微带线(8)，第二矩形微带环谐振器(7)与第二L形输入输出微带线(8)相邻的一端之间是第二耦合缝隙(9)，第二L形输入输出微带线(8)的另一端是第二谐振电路(3)的输入输出端口。 | ||
| 搜索关键词： | 同时 测量 陶瓷 收缩 介电常数 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种同时测量陶瓷收缩率和介电常数的装置，其特征在于该装置包括LTCC基板(1)和位于LTCC基板(1)上两个结构形式相似且并排排列的第一谐振电路(2)、第二谐振电路(3)，其中：第一谐振电路(2)的中间是第一矩形微带环谐振器(4)，第一矩形微带环谐振器(4)的两侧是第一L形输入输出微带线(5)，第一矩形微带环谐振器(4)与第一L形输入输出微带线(5)相邻的一端之间是第一耦合缝隙(6)，第一L形输入输出微带线(5)的另一端是第一谐振电路(2)的输入输出端口；第二谐振电路(3)的中间是第二矩形微带环谐振器(7)，第二矩形微带环谐振器(7)的两侧是第二L形输入输出微带线(8)，第二矩形微带环谐振器(7)与第二L形输入输出微带线(8)相邻的一端之间是第二耦合缝隙(9)，第二L形输入输出微带线(8)的另一端是第二谐振电路(3)的输入输出端口。
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