[发明专利]切割分离发光二极管晶片形成发光二极管芯片的方法无效

专利信息
申请号: 201010297409.6 申请日: 2010-09-29
公开(公告)号: CN102437254A 公开(公告)日: 2012-05-02
发明(设计)人: 沈佳辉;洪梓健 申请(专利权)人: 展晶科技(深圳)有限公司;荣创能源科技股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种切割分离发光二极管晶片形成单一发光二极管芯片的方法,其包括以下步骤:提供一发光二极管晶片;通过在发光二极管晶片上形成若干由第二半导体层延伸至第一半导体层的第一槽道;在每一第一槽道内形成由第一半导体层延伸至基底的第二槽道;通过激光切割所述第二槽道底部处形成切口;沿所述切口将发光二极管晶片裂开形成单一发光二极管芯片。本发明所述的切割分离方法,通过在第一槽道内进一步形成由第一半导体层延伸至基底的第二槽道,避免直接通过激光打在第一槽道内进行切割而导致在第一半导体层处产生焦化的情况,从而通过激光切割时产生焦化影响相对较小,进而提高分离后形成的发光二极管芯片的出光效率。
搜索关键词: 切割 分离 发光二极管 晶片 形成 芯片 方法
【主权项】:
一种切割分离发光二极管晶片形成发光二极管芯片的方法,其包括以下步骤:提供一发光二极管晶片,该发光二极管晶片至少包括基底、形成于基底上的第一半导体层、形成于第一半导体层上的发光层及形成于发光层上的第二半导体层;形成若干由第二半导体层延伸至第一半导体层的第一槽道;在每一第一槽道内再形成由第一半导体层延伸至基底的第二槽道;通过激光切割所述第二槽道底部处形成切口;沿所述切口将发光二极管晶片裂开形成多个发光二极管芯片。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于展晶科技(深圳)有限公司;荣创能源科技股份有限公司,未经展晶科技(深圳)有限公司;荣创能源科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010297409.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top