[发明专利]一种消减温度影响的柱体光纤传感装置无效
申请号: | 201010502596.7 | 申请日: | 2010-10-11 |
公开(公告)号: | CN102445219A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 杜兵 | 申请(专利权)人: | 西安金和光学科技有限公司 |
主分类号: | G01D3/036 | 分类号: | G01D3/036;G01D5/353;G01N21/01 |
代理公司: | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人: | 谭文琰 |
地址: | 710075 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种消减温度影响的柱体光纤传感装置,包括供信号光纤穿过的曲线形测试通道、与信号光纤相接的测试单元和与测试单元相接的处理单元;曲线形测试通道包括圆柱体、由上至下布设在圆柱体外侧壁或内侧壁上的曲线形缝隙以及分别布设在曲线形缝隙内部相对两侧的多组A侧变形齿和多组B侧变形齿,A侧变形齿和B侧变形齿交错布设且二者头部间形成供信号光纤穿过的曲线形通道;曲线形缝隙包括上安装节段、下安装节段以及变形量与A侧变形齿和B侧变形齿高度上的变形量相抵消的柱体外侧壁节段。本发明结构简单、设计合理、制作方便、成本低且使用方式灵活、灵敏度高、使用效果好,能有效消除或减少温度对测量精度的影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 消减 温度 影响 柱体 光纤 传感 装置 | ||
【主权项】:
一种消减温度影响的柱体光纤传感装置,其特征在于:包括供信号光纤(6)穿过的曲线形测试通道、与信号光纤(6)相接且对信号光纤(6)中的光信号功率变化量进行同步测试的测试单元(5)和与测试单元(5)相接且对测试单元(5)的测试结果进行分析处理的处理单元(7);所述曲线形测试通道包括在端部所施加外应力F的作用下能发生变形并相应压弯信号光纤(6)的圆柱体(10)、由上至下布设在圆柱体(10)外侧壁或内侧壁上的曲线形缝隙(4)以及分别布设在曲线形缝隙(4)内部相对两侧且能随温度变化发生伸缩变形的多组A侧变形齿(4‑1)和多组B侧变形齿(4‑2),每一组A侧变形齿(4‑1)均包括一个A侧变形齿(4‑1)或并排布设的多个A侧变形齿(4‑1),每一组B侧变形齿(4‑2)均包括一个B侧变形齿(4‑2)或并排布设的多个B侧变形齿(4‑2),多组A侧变形齿(4‑1)和多组B侧变形齿(4‑2)之间呈交错布设且二者的头部间形成供一个或多个信号光纤(6)穿过的曲线形通道,A侧变形齿(4‑1)和B侧变形齿(4‑2)对应布设在信号光纤(6)两侧;所述曲线形缝隙(4)包括上安装节段(21)、下安装节段(22)以及能随温度变化发生伸缩变形且变形量与A侧变形齿(4‑1)和B侧变形齿(4‑2)在高度上的变形量相抵消的柱体外侧壁节段(23),所述A侧变形齿(4‑1)和B侧变形齿(4‑2)分别安装在上安装节段(21)和下安装节段(22)上,上安装节段(21)布设在下安装节段(22)上方且二者间通过柱体外侧壁节段(23)进行连接。
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