[发明专利]分析位置的方法与装置有效
| 申请号： | 201010502622.6 | 申请日： | 2010-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN102043506A | 公开（公告）日： | 2011-05-04 |
| 发明（设计）人： | 张钦富;李政翰;唐启豪;何顺隆 | 申请（专利权）人： | 禾瑞亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台湾台北市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种分析位置的方法与装置，本发明是在感测信息中判断出相应于一第一特性的触碰相关感测信息中的至少一位置。感测信息同时另外存在相应于一第二特性的触碰相关感测信息，第二特性与第一特性相反，并且相应于一第二特性的触碰相关感测信息被忽略或被滤除。本发明避免误判出虚触的位置，防止误判造成的错误操作，并且区隔手与笔的触碰，可进行忽视手掌的持笔书写判断，也可以用于判断手与笔的不同触碰；即使在互电容式侦测时，仍可进行忽视手掌的持笔书写判断，也可以用于判断手与笔的不同触碰，但不会误判出虚触的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 位置 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种分析位置的方法，其特征在于包括：由多个传感器取得相应于至少一第一外部对象接近或触碰一信号源的一触敏信息，其中该至少一第一外部对象电性耦合于至少一第二外部对象，并且该触敏信息相应于该些感应器与该信号源间、该至少一第一外部对象及该至少一第二外部对象间的互电容耦合的信号；依据一第一门坎限值在该触敏信息中决定至少一第一起始位置；以及分别由每一个第一起始位置朝一第一方向的一第一范围进行一零交会处位置分析，其中该第一范围不包括相应该至少一第二外部对象的触敏信息。
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