[发明专利]安检图像中有机物和无机物剔除方法有效

专利信息
申请号: 201010502638.7 申请日: 2010-10-11
公开(公告)号: CN102013098A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 李东;张勇;陈功;何燕南;陈文禧 申请(专利权)人: 公安部第一研究所;北京中盾安民分析技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G01V5/00
代理公司: 北京中海智圣知识产权代理有限公司 11282 代理人: 吴红飞
地址: 100048 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明的目的在于提供一种安检图像中有机物和无机物的剔除方法,所述方法尽可能真实还原无机物或有机物在无遮挡状态下的原始图像显示效果,具体体现在两个方面:(1)被遮挡的目标无机物或有机物应准确还原成其原始颜色;(2)被遮挡的目标无机物或有机物的灰度值应还原成无遮挡的原始值,用“有效厚度范围”这一指标进行测评。与现有技术相比,本发明的优越效果在于:采用具有剔除功能的设备,安检人员借助此功能可以很容易地分辨出隐匿其中的可疑物从而进一步处理,本发明很大程度上提高了安检员判断的准确率和工作效率,极大提高安检水平,对于航空等交通安全意义重大。
搜索关键词: 安检 图像 有机物 无机物 剔除 方法
【主权项】:
一种安检图像中有机物和无机物的剔除方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:步骤一:有机物和无机物剔除表生成;步骤二:有机物剔除;步骤三:无机物剔除;进一步地,步骤一包括以下步骤:步骤1:有机物和无机物剔除物理模型建立;选择代表有机物和代表无机物,以不同比例有机物和无机物的叠加物模拟混合物,建立坐标系,横轴是双能量X射线高能值,纵轴是双能量X射线低能/高能值,在代表有机物的曲线和代表无机物的曲线之间的曲线为不同比例有机物和无机物的叠加曲线,代表混合物;步骤2:实验数据理论计算;使用有机物和无机物配制有效原子序数,通过有效原子序数公式,理论上计算出要配置有效原子序数在代表有机物和代表无机物之间的物质以及代表有机物和代表无机物的厚度情况;步骤3:实验数据样本采集;根据步骤2用代表有机物和代表无机物的不同厚度进行配比,得到有效原子序数在代表有机物和代表无机物之间的物质,对每种物质不同厚度采集数据,采样数据包含混合物灰、有机物灰度和无机物灰度值;步骤4:有机物和无机物剔除表生成;进一步地,步骤3中任意相邻四个采样点组成一个四边形,通过线性插值算法算出四边形内任意一点的混合物灰、有机物灰度和无机物灰度值,把步骤1物理模型进行网格剖分后,计算出坐标系内任意一点的混合物灰、有机物灰度和无机物灰度值;把空间内所有点混合物灰、有机物灰度和无机物灰度值按一定序列输出成表,即有机物无机物剔除表;进一步地,步骤二包括以下步骤:步骤1:对图像数据进行材料分析;在此步骤中,将图像数据逐点映射到步骤一中输出的有机物和无机物剔除表中,通过映射点的坐标,判断出该物质是有机物、无机物或是混合物;步骤2:找出图像数据中有机物物质,把有机物质从图像数据中剔除;在可识别材料范围内,将图像高低能数据输入有机物和无机物剔除表中,去掉无叠加部分的有机物材料和有机物与无机物叠加部分的有机物材料,不可识别的材料以灰度显示;步骤3:找出图像数据中无机物物质,保留图像数据无机物数据;步骤4:找出图像数据中混合物物质,剔除有机物成分,保留无机物成分;在可识别材料范围内,将图像高低能数据输入有机物和无机物剔除表中,从混合物物质中区分出有机物成分和无机物成分,剔除有机物成分,保留无机物成分,不可识别的材料以灰度显示;步骤5:图像数据中只保留无机物物质和物质的无机物成分;进一步地,步骤三包括以下步骤:步骤1:对图像数据进行材料分析;在此步骤中,将图像数据逐点映射到步骤一中输出的有机物和无机物剔除表中,通过映射点的坐标,判断出该物质是有机物、无机物或是混合物;步骤2:找出图像数据中无机物物质,把无机物物质从图像数据中剔除;在可识别材料范围内,将图像高低能数据输入有机物和无机物剔除表中,去掉无叠加部分的无机物材料和有机物与无机物叠加部分的无机物材料,不可识别的材料以灰度显示;步骤3:找出图像数据中有机物物质,保留图像数据有机物数据;步骤4:找出图像数据中混合物物质,剔除无机物成分,保留有机物成分;在可识别材料范围内,将图像高低能数据输入有机物和无机物剔除表中,从混合物物质中区分出有机物成分和无机物成分,剔除无机物成分,保留有机物成分,不可识别的材料以灰度显示;步骤5:图像数据中只保留有机物物质和物质的有机物成分。
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