[发明专利]在互电容侦测中分析位置的方法与装置有效
| 申请号： | 201010502686.6 | 申请日： | 2010-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN102043553A | 公开（公告）日： | 2011-05-04 |
| 发明（设计）人： | 张钦富;李政翰;唐启豪;何顺隆 | 申请（专利权）人： | 禾瑞亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台湾台北市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种在互电容侦测中分析位置的方法与装置。通过笔提供交流信号，相应于手的触碰相关感测资讯的第一特性与相应于笔的触碰相关感测资讯的第二特性相反。第一特性与第二特性可被用来区隔手与笔的触碰或手掌忽视。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 侦测 分析 位置 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种在互电容侦测中分析位置的方法，其特征在于其包括以下步骤：由多个感测器取得相应于至少一外部物件接近或触碰一第一信号源的一触敏资讯；当该触敏资讯包括分别相应于一第一特性与相应于一第二特性的第一部分与第二部分，并且该第一特性与该第二特性相反时，由该第二特性的部分分析是否存在具有相应于一第三特性的一第三部分，其中该第三部分相应于该至少一外部物件接近或触碰该第一信号源；以及由该第三部分分析出该第三部分中相应于该至少一外部物件的接近或触碰的位置。
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