[发明专利]一种粗调细调相结合的快速插值焦点探索算法

摘要

本发明公开一种粗调细调相结合的快速插值焦点探索算法，主要包括如下步骤：(1)粗调：在全域范围内以一定的采样间隔进行探索并分别计算各采样点的对焦评价函数值；(2)细调：在细调区间内以较小的采样间隔进行精确探索，分别计算各采样点的对焦评价函数值，焦点的位置处于采样得到的最大值所在区间及其前后两个采样区间之内；(3)插值：取最大值左边的两个采样点和右边的两个采样点的值，将其分别连成的直线，两条直线的交点作为采样区间的插入值，该插入值所在的位置即为非常接近实际焦点的位置。本发明采用了全域探索、局部插值的技术，通过粗调、细调、插值这三个过程，可以实现非常快速精确的焦点定位，具有探索速度快、精度高等特点。

主权项

一种粗调细调相结合的快速插值焦点探索算法，其特征在于主要包括如下步骤：(1)粗调：在全域范围内以一定的采样间隔进行探索并分别计算各采样点的对焦评价函数值，确定采样得到的最大值所在区间及其前后两个采样区间为细调区间；(2)细调：在步骤(1)确定的细调区间内以一定的采样间隔进行精确探索，分别计算各采样点的对焦评价函数值，焦点的位置处于采样得到的最大值所在区间及其前后两个采样区间之内；(3)插值：取最大值左边的的两个采样点a点、b点和右边的两个采样点c点、d点的值，将a点和b点连成的直线ab，将c点和d点连成的直线cd，直线ab与直线cd的交点作为采样区间的插入值，该插入值所在的位置即为非常接近实际焦点位置。