[发明专利]一种圆柱形离子阱质谱仪有效

专利信息
申请号: 201010506093.7 申请日: 2010-10-09
公开(公告)号: CN102034668A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 聂宗秀;熊彩侨;朱志强;周晓煜;陈芮 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: H01J49/26 分类号: H01J49/26;H01J49/10;H01J49/16;G01N27/62
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 徐宁;关畅
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种圆柱体离子阱质谱仪,其特征在于:它包括一离子源、一圆柱形离子阱、一电荷检测器和一用于屏蔽射频电场对电荷检测器干扰的电磁屏蔽罩,电荷检测器设置在电磁屏蔽罩空腔内底部,电磁屏蔽罩顶部的中心位置处设置有一通孔;离子源将被测样品经过圆柱形离子阱的样品入口打入圆柱形离子阱内,通过设置在圆柱形离子阱下方的电磁屏蔽罩的通孔后,被抛入电荷检测器上进行检测。本发明由于采用包括离子源、圆柱形离子阱、电荷检测器和电磁屏蔽罩的质谱仪,圆柱形离子阱具有较小的体积且易于加工,因此简化了本发明的结构,降低了成本。本发明可以广泛应用于对各种微米级颗粒质量的测定中。
搜索关键词: 一种 圆柱形 离子 质谱仪
【主权项】:
一种圆柱体离子阱质谱仪,其特征在于:它包括一离子源、一圆柱形离子阱、一电荷检测器和一用于屏蔽射频电场对所述电荷检测器干扰的电磁屏蔽罩,所述电荷检测器设置在所述电磁屏蔽罩空腔内底部,所述电磁屏蔽罩顶部的中心位置处设置有一通孔;所述离子源将被测样品经过所述圆柱形离子阱的样品入口打入所述圆柱形离子阱内,通过设置在所述圆柱形离子阱下方的所述电磁屏蔽罩的通孔后,被抛入所述电荷检测器上进行检测。
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