[发明专利]一种半导体纳米圆环的制备方法有效
申请号: | 201010506128.7 | 申请日: | 2010-10-09 |
公开(公告)号: | CN102097296A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 艾玉杰;郝志华;黄如;浦双双;樊捷闻;孙帅;王润声;安霞 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/3065;G03F7/00;G03F7/20;B82Y40/00 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人: | 李稚婷 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种半导体纳米圆环的制备方法,该方法首先在半导体衬底上涂正性光刻胶,然后基于泊松衍射的原理,通过微米级直径的圆形掩膜版对光刻胶进行曝光,得到圆环形的光刻胶,再在圆环形光刻胶的保护下对衬底进行等离子体刻蚀,在衬底表面形成壁厚为纳米尺寸的圆环形结构。本发明采用微米尺寸的光刻设备和微米尺寸的圆形掩膜制备出纳米尺寸的圆环形结构,克服了对先进光刻技术的依赖,从而有效降低了圆环形纳米结构的制备成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 纳米 圆环 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体纳米圆环的制备方法,包括以下步骤:1)清洗半导体衬底并对衬底进行前烘;2)在衬底上旋涂正性光刻胶;3)在掩膜版的保护下对光刻胶进行曝光,其中掩膜版的图形区域为微米级直径的圆形;4)对曝光后的光刻胶进行显影操作,在衬底上形成圆环形的光刻胶,然后进行后烘;5)在圆环形光刻胶的保护下对衬底进行等离子体刻蚀;6)去胶清洗,在衬底表面形成壁厚为纳米尺寸的圆环形结构。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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