[发明专利]可等比例缩小的模拟叠层电感的电路结构及方法有效

专利信息
申请号: 201010507355.1 申请日: 2010-10-14
公开(公告)号: CN102446887A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 蔡描;王生荣 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522;H01F17/00
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 孙大为
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种可等比例缩小的模拟叠层电感的电路结构及方法;包括:顶层金属模拟电路,其包括N条并联的子电路组成,每条子电路为串联连接的电阻、电感,N为大于等于2的正整数;上述N条并联的子电路与上层金属线圈自感串联;次顶层金属模拟电路,其包括N条并联的子电路组成,每条子电路为串联连接的电阻、电感,N为大于等于2的正整数;上述N条并联的子电路与下层金属线圈自感串联;上下层金属之间互感效应模拟电路,包括上述上层金属线圈和下层金属线圈;上下层金属的重叠电容连接在所述顶层金属模拟电路和次顶层金属模拟电路之间。本发明准确反映了上下层金属高频下的趋肤效应,反映了上下层金属间的互感,可实现叠层电感模型按等比例缩小。
搜索关键词: 比例 缩小 模拟 电感 电路 结构 方法
【主权项】:
一种可等比例缩小的模拟叠层电感的电路结构;其特征在于,包括:顶层金属模拟电路,其包括N条并联的子电路组成,每条子电路为串联连接的电阻、电感,N为大于等于2的正整数;上述N条并联的子电路与上层金属线圈自感串联;次顶层金属模拟电路,其包括N条并联的子电路组成,每条子电路为串联连接的电阻、电感,N为大于等于2的正整数;上述N条并联的子电路与下层金属线圈自感串联;上下层金属之间互感效应模拟电路,包括上述上层金属线圈和下层金属线圈;上下层金属的重叠电容连接在所述顶层金属模拟电路和次顶层金属模拟电路之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹NEC电子有限公司,未经上海华虹NEC电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010507355.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top