[发明专利]位置侦测的方法与装置有效

专利信息
申请号: 201010510070.3 申请日: 2010-10-08
公开(公告)号: CN102043557A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 张钦富;李政翰;唐启豪;何顺隆 申请(专利权)人: 禾瑞亚科技股份有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种位置侦测的方法与装置。借由在感测装置的横轴与纵轴上进行自电容式侦测,以提供自电容式侦测的结果。依据自电容式侦测的结果进行第一次互电容式侦测,以判断出第一一维度位置。依据第一次互电容式侦测的结果进行第二次互电容式侦测,以判断出第二一维度位置。第一一维度位置与第二一维度位置可构成二维度位置。此外,在进行自电容式侦测、第一次互电容式侦测与第二次互电容式侦测的过程中,可以先滤除或忽视相应于大范围的触碰相关感测资讯,以排除手掌的触碰。
搜索关键词: 位置 侦测 方法 装置
【主权项】:
一种忽视大范围触碰的位置侦测的方法,其特征在于包括:提供包括多个感测器的一感测装置,该些感测器包括多个第一感测器与多个第二感测器,该些第一感测器与该些第二感测器交叠于多个叠点;以自电容式侦测由该些第一感测器的信号取得一第一一维度感测资讯;以自电容式侦测由该些第二感测器的信号取得一第二一维度感测资讯;依据该第一一维度感测资讯与该第二一维度感测资讯上每一个触碰相关感测资讯的范围决定被侦测的触碰相关感测资讯,其中每一个触碰相关感测资讯相应于至少一外部物件的触碰或接近;依据每一个被侦测的触碰相关感测资讯分析出至少一一维度位置;以及依据每一个一维度位置进行互电容感测以分析出至少一二维度位置。
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