[发明专利]单片测试装置及其测试方法

摘要

一种单片测试装置及其测试方法，所述单片测试装置用于对单片基板上的面板进行测试，其中所述测试装置和方法能够执行单片测试，而不考虑形成在所述单片基板上的面板的数目。所述单片测试装置包括信号供应器和连接板。所述信号供应器用于产生对所述面板进行测试的多个信号组和多个假信号。所述连接板用于将所述信号组中的第一信号组传输至所述面板中与所述第一信号组相对应的第一面板，并且当所述面板的数目大于所述信号组的数目时，将所述多个信号组中至少一个信号组的一信号传输至所述面板中的至少两个。所述单片测试装置可以包括用于控制所述连接板的连接控制器。

主权项

一种单片测试装置，被配置为对包括多个面板的单片基板进行测试，所述单片测试装置包括：信号供应器，用于产生对所述多个面板进行测试的多个信号组和多个假信号；以及连接板，用于：将所述多个信号组中的第一信号组传输至所述多个面板中与所述第一信号组相对应的第一面板，并且在所述多个面板的数目大于所述多个信号组的数目时，将所述多个信号组中至少一个信号组的一信号传输至所述多个面板中的至少两个面板。