[发明专利]基于GPS的超高层建筑物垂直度测控方法有效
| 申请号： | 201010516078.0 | 申请日： | 2010-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN102080960A | 公开（公告）日： | 2011-06-01 |
| 发明（设计）人： | 施志远;朱毅敏;徐峰;朱成捷;陈康;徐磊 | 申请（专利权）人： | 上海市第一建筑有限公司 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00;G01C15/02;G01C15/12 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 200120 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于GPS的超高层建筑物垂直度测控方法，采用高精度GPS静态测量模式，将其中二台基准站置于地面上的基准控制网点上，一台流动站置于施工楼层面的任意位置，定时观测得到第一个楼面测量控制点，同样方法得到第二个楼面测量控制点，采用这两个控制点之一作为测站点，另一点作为后视点进行测点校验，无误后放样楼面轴线控制点。采用本发明可以消除传统方法中的累积误差，提高建筑结构垂直度。此外由于每次测量都从地面上的基准控制网出发，没有累积误差，消除超高层的垂直度控制的最大误差源。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 gps 超高 建筑物 垂直 测控 方法 | ||
【主权项】：
一种基于GPS的超高层建筑物垂直度测控方法，其特征在于，采用高精度GPS静态测量模式，将其中二台基准站置于地面上的基准控制网点上，一台流动站置于施工楼层面的任意位置，定时观测得到第一个楼面测量控制点，同样方法得到第二个楼面测量控制点，采用这两个控制点之一作为测站点，另一点作为后视点进行测点校验，无误后放样楼面轴线控制点。
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