[发明专利]一种采用滞后温度补偿的压力变化检漏方法

摘要

本发明公开了一种采用滞后温度补偿的压力变化检漏方法。为了提高检漏精度，本发明采用压力计和温度计分别测量被测舱体内的压力和温度，采用经过平移一定时间的温度曲线对压力曲线进行补偿，本发明提供的方法，分为充气、平衡、测试、放气四个环节。本发明的方法主要用于航天器舱体总漏率测试，也可以用于其他大型内压容器总漏率测试。

主权项

采用滞后温度补偿的压力变化检漏方法，包括以下流程：1)充气：将工作气体充入被测航天器舱体，直到达到0.1MPa的航天器舱体检漏的工作压力；2)平衡：将被测航天器舱体静置一段时间，直到被测航天器舱体内的压力和温度达到平衡；3)测试并进行漏率计算：通过绝压计和温度计分别测量被测舱体内的压力和温度，并利用计算机每隔5秒记录一次测试数据，对被测舱体的压力和温度持续测量24小时，据理想气体状态方程进行温度补偿计算，并得出被测舱体漏率，其中，漏率计算不但采用初始时刻和终止时刻两点的测试数据，而且还要用整个测试过程中的温度曲线对压力曲线进行补偿，漏率计算过程中，并不是用即时的温度对压力进行补偿计算，而是用滞后一段时间的温度进行补偿计算，温度滞后时间的确定是根据每次具体测量得到的压力曲线和温度曲线，由两条曲线的峰值时间差或者谷值时间差确定的；4)放气：测试结束后，将工作气体从被测航天器舱体中放出，从而完成检漏过程。