[发明专利]薄膜晶体管及其制造方法以及有机电致发光设备有效
申请号: | 201010518645.6 | 申请日: | 2010-10-20 |
公开(公告)号: | CN102097486A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 金光淑;朴镇成 | 申请(专利权)人: | 三星移动显示器株式会社 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L29/06;H01L21/336;H01L27/32 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 郭鸿禧;李娜娜 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明公开了一种薄膜晶体管及其制造方法以及包括该薄膜晶体管的有机电致发光设备。该薄膜晶体管包括:基底;栅电极,形成在基底上;栅极绝缘层,形成在基底的暴露部分和栅电极上;氧化物半导体层,形成在栅极绝缘层上以对应栅电极并包括HfInZnO基氧化物半导体,其中,基于按原子计100%的Hf、In和Zn的总浓度,氧化物半导体层中的Hf的浓度按原子计在大约9%至大约15%;源极区和漏极区,所述源极区和漏极区分别形成为在氧化物半导体层的两侧上以及栅极绝缘层上延伸。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制造 方法 以及 有机 电致发光 设备 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管,包括:基底;栅电极,形成在基底上;栅极绝缘层,形成在基底的暴露部分和栅电极上;氧化物半导体层,形成在栅极绝缘层上并包括HfInZnO基氧化物半导体;源极区和漏极区,所述源极区和漏极区分别形成为在氧化物半导体层的两边上和栅极绝缘层上延伸。
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