[发明专利]基于双频激光干涉的二维测量装置无效

专利信息
申请号: 201010521736.5 申请日: 2010-10-27
公开(公告)号: CN102003939A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 王昭;汤善治;高建民;蒋志雄;郭俊杰 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02;B23Q17/24
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 基于双频激光干涉的二维测量装置,包括反射率为50%的分光镜、x向测量模块、y向测量模块,x向平面反射镜和y向平面反射镜。激光束通过50%分光镜分成两束,对x、y两个方向的位移进行测量。每束光会通过偏振分光棱镜分为P光和S光,P光作为参考光,由角锥棱镜返回;S光做为测量光,由被测量平面镜反射,经1/4波片,其偏振方向转90°,因而会透过偏振分光棱镜的分光面,而被角锥棱镜反射并再次透过偏振分光棱镜的分光面,由被测量平面镜反射,经1/4波片,其偏振方向再次转90°,经偏振分光棱镜的分光面反射返回,测量光与参考光产生干涉,干涉信号被光电接收器所接收,从而得到x、y方向的被测位移。
搜索关键词: 基于 双频 激光 干涉 二维 测量 装置
【主权项】:
基于双频激光干涉的二维测量装置,其特征在于:包括双频激光头(6)以及位于双频激光头(6)出射光光路中反射率为50%的分光镜(1),在该分光镜(1)的反射光路及透射光路中分别设置有x向测量模块和y向测量模块,在x向测量模块和y向测量模块的测量光路中分别设置有x向平面反射镜(5)和y向平面反射镜(3);所说的y向测量模块包括y向偏振分光棱镜(2c),在y向偏振分光棱镜(2c)透射光路中设置有y向透射角锥棱镜(2d),在y向偏振分光棱镜(2c)反射光路的后端设置有y向角锥棱镜(2b),在y向偏振分光棱镜(2c)的反射光路中依次设置有y向1/4波片(2e)和y向平面反射镜(3),在y向偏振分光棱镜(2c)与y向透射角锥棱镜(2d)相对的一侧设置有y向光电接收器(2a);所说的x向测量模块包括x向偏振分光棱镜(4c),在x向偏振分光棱镜(4c)透射光路中设置有x向透射角锥棱镜(4d),在x向偏振分光棱镜(4c)反射光路的后端设置有x向角锥棱镜(4b),在x向偏振分光棱镜(4c)的反射光路中依次设置有x向1/4波片(4e)和x向平面反射镜(5),在x向偏振分光棱镜(4c)与x向透射角锥棱镜(4d)相对的一侧设置有x向光电接收器(4a)。
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