[发明专利]像素缺陷检测和校正设备和方法、成像装置、和程序无效
| 申请号： | 201010521995.8 | 申请日： | 2010-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN102055918A | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 桥爪淳 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | H04N5/367 | 分类号： | H04N5/367;H04N9/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 黄小临 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种像素缺陷检测和校正设备，包括：平均值获取部分，在排列了具有相同颜色的多个相邻像素和具有不同颜色的多个相邻像素、且作为感兴趣的像素的缺陷要被检测的像素在中心的处理区域中，获取排除了所述缺陷要被检测的像素的、具有不同颜色的相邻像素的像素值的平均值；以及缺陷确定部分，至少基于所述平均值，确定所述缺陷要被检测的像素是否有缺陷。其中，所述缺陷确定部分通过比较所述缺陷要被检测的像素的像素值、具有不同颜色的相邻像素的平均值、和指定的不同颜色像素阈值来确定所述缺陷要被检测的像素是否有缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 像素 缺陷 检测 校正 设备 方法 成像 装置 程序 | ||
【主权项】：
一种像素缺陷检测和校正设备，包括：平均值获取部分，在排列了具有相同颜色的多个相邻像素和具有不同颜色的多个相邻像素、且作为感兴趣的像素的缺陷要被检测的像素在中心的处理区域中，获取排除了所述缺陷要被检测的像素的、具有不同颜色的相邻像素的像素值的平均值；以及缺陷确定部分，至少基于由所述平均值获取部分获取的平均值，确定所述缺陷要被检测的像素是否有缺陷，其中，所述缺陷确定部分通过比较所述缺陷要被检测的像素的像素值、由所述平均值获取部分获取的具有不同颜色的相邻像素的平均值、和指定的不同颜色像素阈值来确定所述缺陷要被检测的像素是否有缺陷。
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